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2009年第十一届中国国际高新技术成果交易会
2009年11月16日 – 11月21日

 

本中心参加了在深圳举办的第十一届中国国际高新技术成果交易会。所设的摊位向大众介绍了在「多天线多标签」测试研究所得的成果,吸引了不少廠商及學術界人士参观及咨询。

- 高交会新闻

 

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